Tehnologija obrade poluvodiča indijevog fosfida (InP).

Oct 21, 2025

Ostavite poruku

Tehnologija obrade poluvodiča indijevog fosfida (InP).​

​Sadržaj​

Uvod

Zahtjevi za prijavu

Specifikacije sustava

Tijek obrade

Slučaj kupca

​

​Zahtjevi za prijavu​
InP obrada pločica mora postići sljedeće ciljeve:

Površinska hrapavost: Naknadno-poliranje Ra Manje od ili jednako 1 nm

Ukupna varijacija debljine (TTV): konačna pločica TTV manja ili jednaka 2 µm

Kontrola debljine: ciljna debljina 150 µm (ovisno o zahtjevima kupca)

Ravnost ruba: kompenzirajte krivljenje ruba tijekom faze poliranja pomoću konveksne brusne ploče.

​Specifikacije sustava​
Sustav preciznog brušenja i poliranja HSM pruža potpuno-procesno rješenje.

​Tijek obrade​

​Priprema mljevenja​

Upotrijebite mjerač za ispitivanje ravnosti da kalibrirate konveksnost ploče za brušenje stakla (koristi se za kompenzaciju učinaka rubova poliranja).

Stavite InP pločicu na namjensko učvršćenje (ASJ). Izvršite mljevenje u dvije-stupnjeva pomoću suspenzije glinice:

​Faza 1:​​ Ukloniti oštećenja od rezanja, smanjujući hrapavost na 250-350 nm.

​Faza 2:​​ Poboljšajte ravnost, postižući hrapavost od 200-350 nm i TTV manji ili jednak 3 µm.

​Priprema za poliranje​

Zamijenite Lapping valjk jastučićem za poliranje i prebacite abraziv na HSM specijaliziranu smjesu za poliranje.

Upravljajte ključnim parametrima putem grafičkog sučelja:

Brzina ploče za poliranje: manja ili jednaka 100 o/min

Brzina protoka gnojnice: nadzire-sustav kontrole kapanja u stvarnom vremenu (smanjuje otpad)

Tlačno opterećenje: Dinamički prilagođeno prema zahtjevima debljine.

​Cilj:​​ Uklonite pod{0}}površinska oštećenja i postignite atomski glatku površinu (Ra manje od ili jednako 1 nm).

​Rezultati​
InP pločice od 2-inča koje je obradio HSM-LP sustav postigle su sljedeće performanse:

​Slučaj kupca​
Kupac je koristio HSM-LP sustav za obradu InP pločica od 2 inča (50 mm). Proces i rezultati su sljedeći:

​Dvo{0}}fazno brušenje:​​

Konveksnost preklopne ploče kalibrirana na ciljnu zakrivljenost (kako bi se spriječilo savijanje rubova).

Materijal je uklonjen postupno s kašom glinice, TTV stabiliziran na 3 µm.

​Poliranje:​​

Brzina protoka smjese za poliranje postavljena je na 50 ml/min, brzina ploče na 80 o/min.

Površinska hrapavost smanjena s 350 nm na 1 nm (provjereno Dektak profilometrom).

​Konačna metrika:​​

Debljina: 150 ± 0,5 µm

Ravnost: TTV Manje od ili jednako 1 µm

Integritet ruba: Bez lomljenja.

​Tehnička provjera valjanosti​
Shema: Morfologija površine InP pločice nakon obrade HSM-LP sustavom.

1conew1

​Napomene:​​

Mjerna oprema: Bruker ContourGT interferometar bijele svjetlosti

Puni-procesni prinos: veći ili jednak 98% (veličina serije od 80 pločica)

Pošaljite upit