Dokument: Tehnologija kemijskog mehaničkog poliranja (CMP) za nanokristalne dijamantne filmove​ ​Sadržaj

Oct 21, 2025

Ostavite poruku

Dokument: Tehnologija kemijskog mehaničkog poliranja (CMP) za nanokristalne dijamantne filmove​

​Sadržaj​

Uvod

Zahtjevi za prijavu

Specifikacije sustava

Tijek obrade

Rezultati

Slučaj kupca

​Uvod​
Nanokristalni dijamantni (NCD) filmovi zadržavaju visoki Youngov modul (1100 GPa) jedno-kristalnog dijamanta, a istovremeno nude prednost niske-temperature (<450 °C) growth. This makes them highly promising for applications in Micro-Electro-Mechanical Systems (MEMS), Surface Acoustic Wave (SAW) devices, thermal management, and tribological coatings. However, due to competitive grain growth, the surface roughness of NCD films increases with thickness, limiting their use in devices requiring ultra-smooth surfaces. Chemical Mechanical Polishing (CMP), as a low-temperature, low-pressure, high-precision surface planarization technique, can effectively reduce NCD film roughness and enhance their suitability for such devices.

​Zahtjevi za prijavu​
Obrada NCD pločice mora postići sljedeće ciljeve:

Površinska hrapavost: Ra nakon-poliranja Manji od ili jednak 2 nm

Ukupna varijacija debljine (TTV): konačna pločica TTV manja ili jednaka 2 µm

Kontrola debljine: Ovisno o zahtjevima kupaca

Bez oštećenja površine: Izbjegnite nedostatke poput mikro-pukotina i grafitizacije

Visoki prinos: Pogodno za izbočene oblatne, izbjegavajući lomljenje

​Specifikacije sustava​
Sustav preciznog brušenja i poliranja HSM pruža potpuno-procesno rješenje.

​Tijek obrade​

​Priprema uzorka​

Pripremite CVD-NCD filmove debljine 1,5 µm.

Očistite silikonsku podlogu otopinom za čišćenje.

​Priprema za poliranje​

Zamijenite brusnu ploču s jastučićem za poliranje. Pred-kondicionirajte jastučić 30 minuta i zamijenite abraziv na HSM specijaliziranu otopinu za poliranje.

Upravljajte ključnim parametrima putem grafičkog sučelja:

Brzina ploče za poliranje: manja ili jednaka 100 o/min

Brzina protoka gnojnice: nadzire-sustav kontrole kapanja u stvarnom vremenu (smanjuje otpad)

Tlačno opterećenje: 3-4 psi

​Cilj:​​ Uklonite pod{0}}površinska oštećenja i postignite atomski glatku površinu (Ra manje od ili jednako 2 nm).

​Rezultati​
NCD filmovi obrađeni HSM-CMP sustavom postigli su sljedeće performanse:

​Slučaj kupca​
Korisnik je koristio HSM-CMP sustav za CMP obradu 2-inčnog NCD filma na sljedeći način:

Početno stanje: RMS=18.3 nm, pokazuje jasne fasete zrna.

Nakon 4 sata poliranja: RMS=1.7 nm, s lokaliziranim područjima koja dosežu 0,42 nm.

Sastav površine: XPS nije pokazao grafitizaciju, s umjerenim povećanjem sadržaja kisika.

Prikladnost: Učinkovito za lučne napolitanke bez opasnosti od loma.

Učinak čišćenja: SC-1 čišćenje uklonilo je većinu površinskih onečišćenja.

​Tehnička provjera valjanosti​
Shema: Površinska morfologija NCD filma nakon obrade pomoću HSM-CMP sustava.

info-1107-598

​Napomene:​​

Oprema za mjerenje: Interferometar bijele svjetlosti ER230

Pošaljite upit